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鍍銀層厚度的基本概念

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鍍銀層厚度的基本概念

2020-09-02

鍍銀層厚度的基本概念

電鍍性質決定鍍層厚度不可能很均勻,邊角處、折角處(國際上采用直徑為19的球測量直徑以外區域,國內用直徑20的球測量直徑以外區域)、深孔處等隻需做到有鍍層即可,不可能所有麵、所有點都達到5μm以上,隻能說主要麵最小厚度盡量做到等於或者大於5μm,具體可參考相關電鍍標準(國標或者ISO標準)。

1、鍍層均勻性: 

所有電鍍層的厚度都不會是均勻的,這是電鍍的性質決定的。因為在同一個製件上,電流密度不可能做到均勻。

不管什麽電鍍都是厚度不均勻,隻是相差的大與小的問題,如掛鍍時,每掛最上麵和下麵的工件肯定會比中間的厚一些,滾鍍的有時一些工件滾到一些死角的地方,厚度比那些滾的流暢的工件厚度要薄一些,那單個工件來說,邊角部分的厚度比中間部位的厚度要厚,這是肯定的,雖然有些廠裏做了工件高區的遮擋,以免電流增大,高區燒焦,也是為了低區的厚度提升,高區厚度降低,來提升整體的厚度均勻,但是還是不可能那麽均勻。這所有這些現象都是一個原因,就是電鍍產品電鍍時的情況就像磁鐵一樣有一個磁力線原理,邊角或尖端的電流線是密集的,中間肯定會比邊緣的少的緣故。

2、電鍍工藝缺陷:

工藝允許的缺陷是指由於電鍍工藝的限製,在電鍍加工過程中出現的不可克服的缺陷,在一定的範圍內,不作為不合格的判定依據。工藝允許的缺陷往往是由於鍍件結構複雜和電鍍工藝技術的限製而難以完全消除的缺陷,比如深孔內可以允許一定孔深內沒有鍍層,或規定孔口向內的一定距離內有鍍層即為合格等。但是工藝允許的缺陷以不損失產品的使用功能為前提,是在不影響產品性能前提下的讓步接收。

3、鍍層測量 GB12334 等效 ISO 2064

   (1) 適用範圍 本國際標準定義了有關任何基體上的金屬和其他非有機覆蓋層厚度測量的術語。此外,還規定了一些測量覆蓋層最小厚度所要遵循的通則。

  (2) 本國際標準采用以下定義 ①主要表麵:工件上已塗覆或待塗覆的部分,對這部分而言,覆蓋層對使用性能和/或外觀都是至關重要的;並且這部分的覆蓋層必須符合所有規定要求。②測量麵:主要表麵上作單個測量的區域。以下方法的“測量麵”的相應定義為:

  (a)分析法的測量麵為退除覆蓋層的區域;

  (b)陽極溶解法的測量麵為電解池封閉圈所包圍的區域;

  (c)顯微鏡法的測量麵為在規定放大倍數下的視野區域;

  (d)無損法的測量麵為探頭區域或影響讀數的區域。

  ③參比麵:要求作規定次數的單個測量的表麵。

  ④局部厚度:在參比麵內規定次數厚度測量的平均值。

  ⑤最小局部厚度:在單個工件的主要表麵所測得的局部厚度的最小值。

  ⑥最da局部厚度:在單個工件的主要表麵所測得的局部厚度的最da值。

  ⑦平均厚度:或者是采用分析法得到的值,或者是采用在主要表麵上進行規定次數的局部厚度測量得到的平均值。

  (3) 局部厚度的測量 平均厚度測量通常在總表麵積有限的小件上進行:

  ①主要表麵小於1 cm2的試件 用於測量局部厚度的正常參比麵應當是試件的全部主要表麵。在此參比麵內要作的單個測量次數,應由有關各方商定。在特殊情況下,可采取一些較小的參比麵,但它們的尺寸、數量和位置應由各方商定。

  ②主要表麵大於1 cm2的試件 局部厚度應在約為1 cm2的參比麵內進行測量(在可能的情況下,是1 cm×1 cm的麵積)。在此參比麵內至多可取5個散布的測點(具體數取決於所用的測量方法)。實際要作的測量次數應由有關各方商定。

 ③顯微鏡法 采用ISO 1463規定的顯微法測量時,至少應當沿規定的顯微截麵長度作5個散布點的測量。

 (4) 平均厚度的測量

 ①分析法:采用質量損失方法測量平均厚度時,選擇的測量麵應當足夠大以便能用稱重法準確測量質量損失。如果塗覆件的主要表麵小於要求的最小測量麵積,則應選擇一定數量的單個試件以便能提供一次測量所要求的測量麵積,而且測量結果應為平均厚度。如果塗覆件的主要表麵的麵積未明顯超過要求的最小測量麵積,則在該件上的一次測量應視為該件的平均厚度。至少應測量兩個試件以證明測量精度。如果塗覆件的主要表麵明顯地超過要求的最小測量麵積,則應在主要表麵內分散作規定次數的重複測量,並分別記錄測量結果。

② 其他方法:如果塗覆件的主要表麵的麵積沒有明顯超過測量局部厚度的參比麵,則應當將局部厚度值作為平均厚度。如果塗覆件的主要表麵的麵積明顯地超過測量局部厚度的參比麵,則應當將散布於主要表麵上的3~5個局部厚度測量值R 平均值作為平均厚度。


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